전자장치에서 과열점을 정확하게 확인

연구 / 과학

열화상 카메라로 PCB 문제해결 및 전자제품 설계

열화상 카메라 없이 전자장치 R&D에서 핫스팟을 찾아 수리하는 작업은 추측에 의존하는 경우가 많습니다. 연구, 개발 및 과학 분야를 위한 FLIR 적외선 카메라를 통해 전체 목표물의 온도를 확인할 수 있어 방열 문제를 신속하게 확인하고, 솔루션 관련 작업을 시작할 수 있습니다.

FLIR의 R&D/과학 적외선 카메라 솔루션은 빠른 온도 변화를 포착하고, 감도, 공간 해상도, 프레임 속도, 노출 시간을 제공하여 움직이는 표적의 온도를 정확하게 측정할 수 있습니다.

FLIR 연구개발/과학 카메라에 투자하는 이유?

대형 및 소형 전자 장치 측정

열전대나 스팟(spot) 고온계와는 달리 FLIR 적외선 카메라는 대형 표적과 마이크로 크기의 전자 장치 모두에서 정확한 검침을 수행할 수 있습니다.

감도, 속도 및 공간 해상도

FLIR 적외선 카메라는 빠른 열과도 현상을 측정하기 위해 필요한 감도와 공간 해상도로 고속 데이터를 기록합니다.

데이터 분석, 미래의 분석

FLIR의 ResearchIR 소프트웨어로 스트리밍 하거나 SDK 솔루션을 선호하는 경우 FLIR 열 데이터를 통해 설계 장애와 비용 부담이 큰 리콜을 사전에 방지할 수 있습니다.

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PCB 및 전자 기기 검사에 적합한 도구

좋은
FLIR ETS320
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전자 기기 검사를 위한 열화상 시스템

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FLIR A325sc
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실시간 분석용 열화상 카메라

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FLIR A6700sc
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과학용 중파장 적외선 (MWIR) 안티몬화 인듐 (InSb) 카메라

전자장치 리소스
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전자 구성품 검사: 비접촉식 스팟
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적외선 온열 측정은 과열점을 식별할 수 있어 열 관리와 회로 보드 설계를 개선할 수 있습니다.