머신비전 카메라용 FLIR 강화형 먼지 억제 서비스
여러 전문 분야의 연구원, 제조업체, 진단 전문가들은 샘플의 크기가 작을수록 확대된 샘플 관찰을 방해하거나 흐릿하게 만들 수 있는 모든 입자가 이미징 장치에 유입되지 않도록 관리하는 것이 얼마나 중요한지 잘 알고 있습니다. 형광 현미경법, 세포 또는 종양 분류, 세포측정, 혈액학 진단, 디스플레이 검사, 반도체 제조 등의 응용 분야에서는 결과물의 정확도 및 신뢰성을 위해 광경로가 매우 깨끗해야 합니다.
FLIR는 ISO 인증(ISO7 - Class 10000)을 받은 청정 환경을 갖춘 당사의 캐나다 제조 공장에서 머신비전 카메라 광학 어셈블리를 청소하고 조립합니다. 이 먼지 억제의 표준 정도는 현미경 검사 응용 분야에 적합한 수준으로, 여기서 “먼지”는 모든 외부 미립자 물질로 정의됩니다. 하지만 어떤 응용 분야에서는 보다 높은 기준이 요구됩니다. 이러한 경우를 위해 FLIR는 당사의 모든 머신비전 카메라(Blackfly S Board Level (USB3/GigE) 및 Firefly 모델 제외)에 강화형 먼지 억제 서비스를 제공합니다.
측정법
오염도 검사 시 웨버 대비법과 평행 광원을 이용하여 표류 입자가 존재할 수 있는 모든 표면을 검사합니다. 웨버 대비 임계값의 기본 공차는 카메라 모델마다 다릅니다.
광원을 카메라 렌즈 플랜지에서 일정한 거리에 고정시켜 점광원이 약 F/100 정도가 되도록 합니다.
광학 표면 품질 측정(간소화)
위 그림은 FLIR 광학 표면 품질 측정법의 대략적인 구성을 나타냅니다. 정의는 다음과 같습니다.
- CO – 커버글래스 외표면*
- CI – 커버글래스 내표면
- SO – 센서글래스 외표면
- SI – 센서글래스 내표면
*커버글래스 외표면에 대한 검사와 세척이 진행되지만 고객이 광경로를 개방한 후에는 이 표면에 먼지가 발생할 수 있습니다.
이미징 파라미터:
- 게인 = 0dB
- 노출 시간은 이미지 강도가 8비트 픽셀 포맷 및 ADC에서 100pts가 되도록 설정되어 있습니다.
- 블랙 레벨 오프셋 = 0
임계값 파라미터:
광학 표면에는 흠집, 스크래치, 코팅 불량, 먼지 등 이상이 있을 수 있습니다. 카메라가 당사의 엄격한 기준에 부합하는지 테스트하기 위해 이러한 이상 있는 부분의 크기를 원의 지름으로 변환하여 측정합니다. (참고: 이 임계값은 CO에 적용되지 않음) 특정한 필요 및/또는 프로젝트 요구사항에 대해서는 당사에 문의하십시오.
당사의 노력
엄격한 의료기기 기준 충족을 위해 반도체 제조 환경에서 극소 이물질을 검출해야 하는 특수화된 요건을 유지하고자 당사의 머신비전 카메라는 강화형 먼지 억제 서비스 외에도 다양한 기능을 제공합니다. 이러한 기능에는 펌웨어 관리 및 프리징 옵션, 10년 이상 장기적 제품 지원 및 통합기가 정확성 높은 색 재현 및 저광 성능에 맞추어 교정할 수 있도록 하는 하드웨어 및 소프트웨어 기능 등이 있습니다.
이러한 특징 덕분에 FLIR 머신비전 카메라는 특히 의생물공학, 광학 제품 개발, 반도체 제작, 우주 연구와 같은 까다로운 응용 분야 및 기타 특수 분야에 적합합니다.
다양한 응용 분야에서 활용할 수 있는 당사의 머신비전 카메라에 대해 자세히 알아보십시오.
